nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) - PR924099-2690-P

nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) nano-XCT inspection tool (IMWS-04.1) Halle, 06120, Halle (Saale), Germany 1 Stück nano-XCT inspection tool Das Fraunhofer-Institut für Mikrostruktur von Werkstoffen und Systemen IMWS erforscht das Anwendungsverhalten, die Zuverlässigkeit, die Sicherheit und die Lebensdauer innovativer Materialien in Bauteilen und Systemen. Der Geschäftsbereich "Elektronische Materialien und Komponenten" des Fraunhofer IMWS unterstützt Industrie- und Forschungspartner mit seiner international anerkannten Expertise auf dem Gebiet der Fehleranalysen an elektronischen Bauelementen. Das Fraunhofer IMWS wird seine Kompetenzen im Bereich der fortgeschrittenen Fehleranalyse und Materialcharakterisierung ausbauen, um den Hochlauf neuer Technologien zur heterogenen Integration zu unterstützen und dabei die Herausforderungen hinsichtlich Fertigung und Zuverlässigkeit zu bewältigen. Um die zerstörungsfreie Detektion und Bewertung von Strukturabweichungen, Kontaktfehlern und Schadensmerkmalen sowie deren möglichst präzise Lokalisierung innerhalb des Packages zu ermöglichen - und somit die Grundlage für weiterführende hochauflösende physikalische Diagnostiken zu schaffen -, ist der Einsatz von Systemen der neuesten Generation der Röntgenmikroskopie (XRM) erforderlich. Das Gerät sollte die Möglichkeit bieten, verschiedene Targetmaterialien in Kombination mit Mikroskopoptiken und unterschiedlichen Detektortechnologien einzusetzen, um die submikroskopische Struktur sowie die heterogenen Materialkombinationen von QMI- und 2.5/3D-Bauelementen auflösen zu können. Die Option zur Erweiterung um bzw. Nutzung einer zweiten Röntgenquelle zur Bildgebung von Materialien mit geringer Absorption wäre eine sinnvolle Ergänzung, um heterogene Materialkombinationen bei hohem Probendurchsatz und gleichzeitig bestmöglicher Detail- und Kontrastauflösung analysieren zu können. Gegenstand dieser Ausschreibung ist die Lieferung eines funktionsfähigen Komplettsystems, einschließlich Montage, Inbetriebnahme sowie aller erforderlichen Anschlüsse, Zulassungen/Zertifizierungen und der für den Betrieb notwendigen Software. Die Anforderungen an ein hochmodernes Präzisions-Röntgenmikroskop für hochintegrierte 2.5/3D-Bauelemente sind im Folgenden beschrieben Optionen: 1.6.3. Scanning-Beugungskontrasttomographie Bildgebungsverfahren zur Darstellung und Analyse kristallographischer Korndaten mittels Röntgenbeugung. 1.7.2. Software "Software/Steuerung" Software oder zusätzliche Softwaremodule zur Optimierung von Messprozessen (hinsichtlich Durchsatz, Ergebnisqualität usw.) und zur Optimierung von Messdatensätzen (Artefaktreduktion, Volumenrekonstruktion, Analysewerkzeuge usw.). Möglichkeit zum Zugriff auf Geräteeinstellungen zur individuellen Anpassung von Messroutinen, zur Triggereinstellung über externe Schnittstellen und zur Auswertung von Gerätedaten. 1 Piece Nano-XCT Inspection Tool The Fraunhofer Institute for Microstructure of Materials and Systems IMWS investigates the application behavior, reliability, safety, and service life of innovative materials in components and systems. The "Electronic Materials and Components" division of Fraunhofer IMWS supports industry and research partners with its internationally recognized expertise in the field of failure analysis of electronic components. Fraunhofer IMWS will expand its competencies in advanced failure analysis and material characterization to support the ramp-up of new technologies for heterogeneous integration and to address the challenges related to manufacturing and reliability. To enable the non-destructive detection and evaluation of structural deviations, contact defects, and damage characteristics, as well as their precise localization within the package—thus creating the basis for further high-resolution physical diagnostics—the use of the latest generation of X-ray microscopy (XRM) systems is required. The instrument should offer the capability to use various target materials in combination with microscope optics and different detector technologies to resolve the submicroscopic structure and heterogeneous material combinations of QMI and 2.5/3D devices. The option to expand the system with a second X-ray source for imaging materials with low absorption would be a valuable addition, enabling the analysis of heterogeneous material combinations with high sample throughput while simultaneously achieving the best possible detail and contrast resolution. This tender covers the delivery of a fully functional system, including assembly, commissioning, all necessary connections, approvals/certifications, and the software required for operation. The requirements for a state-of-the-art precision X-ray microscope for highly integrated 2.5/3D devices are described below. Optionen: 1.6.3. Scanning diffraction contrast tomography Imaging method for displaying and analyzing crystallographic grain information using X-ray diffraction. 1.7.2. Software "Software/ Control" Software or add-on software modules to optimize measurement processes (in terms of throughput, quality of results, etc.) and for optimizing measurement data sets (artifact reduction, volume reconstruction, analysis tools, etc.). Option to access machine settings for individual adaptation of measurement routines, for trigger setting from external interfaces and for machine data evaluation." Halle, 06120, Halle (Saale), Germany #Besonders auch geeignet für:other-sme# #Also particularly suitable for:other-sme#